ПЕРВОЕ ВЫСШЕЕ ТЕХНИЧЕСКОЕ УЧЕБНОЕ ЗАВЕДЕНИЕ В РОССИИ

САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКИЙ ГОРНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

Иванов Алексей Сергеевич


Ученая степеньКандидат технических наук
Ученое званиеДоцент
ДолжностьДоцент каф общей и технической физики


Телефон
+7 (881) 232-8846


Адрес
Инженерный корпус, Малый пр., 83

Аудитория
213

Время работы
08:30 - 17:45


Образование высшее, в 1981 году окончил Ленинградский политехнический институт им. М.И. Калинина. Ученая степень кандидата технических наук по специальности 05.02.11 «Методы контроля и диагностики в машиностроении»  утверждена Высшей аттестационной комиссией Министерства образования и науки Российской Федерации в 1996 г., присвоено ученое звание доцента по кафедре физика в 1998 г.

Стаж научно-педагогической работы 29 лет, стаж педагогической работы в образовательных организациях высшего профессионального образования 28 лет.

Статьи в журналах

  1. Федорцов А. Б., Манухов В. В., Иванов А. С., Laser interferometric method for determining the carrier diffusion length in semiconductors / Semiconductors, № 9, V 49, 2015. С 1119 - 1124.
  2. Федорцов А. Б., Манухов В. В., Иванов А. С., Лазерно-интерференционный метод определения длины диффузии носителей заряда в полупроводниках. / Физика и техника полупроводников, № 9, V 49, 2015. С 1153 - 1159.
  3. Федорцов А. Б., Гончар И. В., Иванов А. С., Быстродействующий интерферометрический измеритель толщины пленок в диапазоне от десяти до тысячи микрон. / Научно-технические ведомости СПБГПУ, серия "Физ.-мат.науки", № 3, 2012. С 22 - 28.
  4. Федорцов А. Б., Иванов А. С., Гончар И. В., Манухов В. В., Автоматизированный быстродействующий лазерный интерферометр для контроля толщины твердых и жидких пленок. / Известия ВУЗов. Приборостроение, № 5, V 55, 2012. pp. 72 - 79.
  5. Федорцов А. Б., Иванов А. С., Чуркин Ю. В., Манухов В. В., Быстродействующий прибор для контроля угловой зависимости коэффициента отражения лазерного луча / Известие ВУЗов. Приборостроение, № 3, V 54, 2011. pp. 61 - 64.

Публикации в сборниках, трудах, конференций

  1. Федорцов А. Б., Иванов А. С. Опыт проведения дифференцированного зачета в письменной форме.. / 10-й Санкт-Петербургский конгресс "Профессиональное образование, наука и инновации в 21-м веке. //Санкт-Петербург: Горный университет , Т 2, 2016. С 307 - 310.
  2. Федорцов А. Б., Манухов В. В. Двухлазерный бесконтактный ме-тод определения злектронных свойств полупроводников и ди-электриков. / VII Международная конференция по фотонике и информационной оптике //Москва: МИФИ , Т 1, 2016. С 32 - 34.
  3. Букина М. Н., Бармасов А. В., Иванов А. С. Современные методы обучения при преподавании физики и концепций современного естествознания. . / Современные образовательные технологии в преподавании естественнонаучных и гуманитарных дисциплин //Санкт-Петербург: Горный университет , Т 1, 2015. С 516 - 520.
  4. Федорцов А. Б., Манухов В. В., Иванов А. С. Бесконтактный метод определения длины диффузии носителя заряда в полупроводниковых пластинках.. / 24-я международная конференция "Лазеры.Измерения.Информация.2014" //Санкт-Петербург: Политехнический университет , Т 2, 2014. С 126 - 136.
  5. Букина М. Н., Бармасов А. В., Иванов А. С. Современные методы обучения при преподавании общей физики и математической обработки результатов измерений физических величин. / Современные образовательные технологии в преподавании естественнонаучных и гуманитарных дисциплин //Санкт-Петербург: Горный университет , Т 1, 2014. С 408 - 414.
  6. Федорцов А. Б., Иванов А. С. Развитие метода Ояма-Мори для контроля толщины оптически прозрачных диэлектрических слоев.. / 13-я Международная конференция "Физика диэлектриков" //Санкт-Петербург: РГПУ им.А. И. Герцена , Т 2, 2014. С 74 - 77.
  7. Федорцов А. Б., Иванов А. С., Гончар И. В. Лазерный интерферометр для контроля толщины оптически прозрачных материалов.. / 23-я международная конференция "Лазеры.Измерения.Информация.2013" //Санкт-Петербург: Политехнический университет , Т 1, 2013. С 9 - 19.
  8. Федорцов А. Б., Гончар И. В., Иванов А. С. Лазерный интерферометрический метод контроля толщины пленок и прибор для его реализации.. / 2-я Всероссийская конференция по фотонике и информационной оптике //Москва: МИФИ , Т 1, 2013. С 32 - 34.
  9. Федорцов А. Б., Гончар И. В., Иванов А. С. Многократное повышение точности лазерно-интерферометрического определения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок в диапазоне от 10 мкм до 1мм.. / 22-я международная конференция "Лазеры.Измерения.Информация.2012" //Санкт-Петербург: Политехнический университет , Т 2, 2012. С 93 - 106.

Патенты

  1. Федорцов А. Б. Способ и устройство для определения длины диффузии носителей заряда в полупроводниковых пластинках. Патент РФ № 2578731. бюллетень изобретения. №6. дата публикации 2016.
  2. Федорцов А. Б. Усройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок.. Патент РФ № 131148. бюллетень полезные модели. №22. дата публикации 2013.
  3. Федорцов А. Б. Усройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок.. Патент РФ № 120490. бюллетень полезные модели. №23. дата публикации 2012.
  4. Федорцов А. Б. Усройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок.. Патент РФ № 120765. бюллетень полезные модели. №24. дата публикации 2012.
  5. Федорцов А. Б. Автоматизированный лазерный интерферометр для контроля толщины прозрачных и жидких пленок.. Патент РФ № 2012611152. бюллетень программ для ЭМВ. №2. дата публикации 2012.
  6. Федорцов А. Б. Устройство для бесконтактного измерения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках.. Патент РФ № 2.444.085 С1. бюллетень изобретения. №5. дата публикации 2012.
  7. Федорцов А. Б. Способ измерения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках.. Патент РФ № 2.450.258 С1. бюллетень изобретения. №13. дата публикации 2012.
  8. Федорцов А. Б. Способ бесконтактного определения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках. Патент РФ № 2.450.387. бюллетень изобретения. №14. дата публикации 2012.
  9. Федорцов А. Б. Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок.. Патент РФ № 2411448. бюллетень изобретения. №5. дата публикации 2011.
  10. Федорцов А. Б. Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок.. Патент РФ № 101812. бюллетень полезные модели. №2. дата публикации 2011.
  1. «Фзика. » (лекции, практические занятия).
    Training direction «21.03.01. Нефтегазовое дело». Profile «Бурение нефтяных и газовых скважин».
    Terms: 1, 2.
  2. «Физика ч.1» (лекции, лабораторные работы).
    Специальность «21.05.02 "Прикладная геология"». Специализация « "Поиски и разведка подземных вод и инженерно-геологические изыскания"».
    Семестр: 2.
  3. «Физика ч.1» (практические занятия).
    Направление подготовки «15.03.04 "Автоматизация технологических процессов и производств"». Профиль « "Автоматизация технологических процессов и производств в металлургии"».
    Семестр: 2.
  4. «Физика ч.2» (практические занятия).
    Специальность «21.05.04 "Горное дело"». Специализация «"Подземная разработка пластовых месторождений"».
    Семестр: 2.
  5. «Физика ч.3» (практические занятия).
    Специальность «21.05.04 "Горное дело"». Специализация « "Горно-промышленная экология"».
    Семестр: 2.
  6. «Физика ч.1» (лекции, практические занятия).
    Специальность «21.05.04 "Горное дело"». Специализация «"Транспортные системы горного производства", "Горные машины и оборудование"».
    Семестр: 4.
  7. «Физика ч.3» (лекции, лабораторные работы).
    Специальность «21.05.02 "Прикладная геология"». Специализация «"Геология нефти и газа", "Геологическая съёмка, поиски и разведка месторождений твёрдых полезных ископаемых"».
    Семестр: 2.
  1. Программа: «Spring Training: IT Essentials.».Место прохождение: Горный университет, г. С.-Петербуг, Россия.
    Период прохождения: 2017.
  2. Программа: ««Инновационные подходы к преподаванию естественнонаучных дисциплин в высшей школе 21 века»».Место прохождение: СПбГУ , г. С.-Петербург, Россия.
    Период прохождения: 2017.
  1. Цаплев В. М. Основы теории физических систем. Физика макросистем (учебное пособие): методические указания по самостоятельной работе / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2014. C. 136. http://personal....
  2. Цаплев В. М. Основы теории физических систем. Физика квантовых систем (учебное пособие): методические указания по самостоятельной работе / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2014. C. 160. http://personal....
  3. Цаплев В. М. Основы теории физических систем. Физические системы второго порядка (учебное пособие): методические указания по самостоятельной работе / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2014. C. 120. http://personal....
  4. Иванов А. С. Физика. Физическая оптика. Дифракция (методические указания к расчётно-графическим работам): методические указания по самостоятельной работе / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2016. C. 17. http://personal....
  5. Иванов А. С. Физика. Определение радиуса кривизны линзы при помощи интерференционной схемы «Кольца Ньютона» (методические указания к выполнению лабораторной работы): методические указания к лабораторным работам / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2014. C. 11. http://personal....
  6. Иванов А. С. Физика. Методические указания к практическим занятиям: методические указания к практическим работам / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2014. C. 60. http://personal....
  7. Иванов А. С. Физика. Определение момента инерции прямоугольного параллелепипеда по параметрам колебаний крутильного маятника (методические указания к выполнению лабораторной работы): методические указания к лабораторным работам / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2016. C. 14. http://personal....
  8. Иванов А. С. Физика. Определение момента инерции круглой платформы по параметрам колебаний крутильного маятника (методические указания к выполнению лабораторной работы): методические указания к лабораторным работам / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2016. C. 13. http://personal....
День недели Неделя Время Корпус Группа Предмет
Вторник 14:15 – 15:45
Инженерный корпус, Малый пр., 83,
235, 714
ИГ-18-1 Физика. Лаб. работы
Вторник Ⅰ, Ⅱ 12:35 – 14:05
Инженерный корпус, Малый пр., 83,
428
РМ-17 Физика. Лаб. работы
Вторник Ⅰ, Ⅱ 10:35 – 12:05
Инженерный корпус, Малый пр., 83,
347
НГД-18-8, НГД-18-10 Фзика. Лекция
Вторник 14:15 – 15:45
Инженерный корпус, Малый пр., 83,
235, 712
ИГ-18-2 Фзика.(лаб. работы)
Вторник 08:50 – 10:20
Инженерный корпус, Малый пр., 83,
233
ГТС-17 Фзика.(лаб. работы)
Среда Ⅰ, Ⅱ 12:35 – 14:05
Инженерный корпус, Малый пр., 83,
546
ГМ-17, ГТС-17. Физика. Лекция.
Среда Ⅰ, Ⅱ 14:15 – 15:45
Инженерный корпус, Малый пр., 83,
714
НГД-18-8. Физика.(практика)
Четверг 14:15 – 15:45
Инженерный корпус, Малый пр., 83,
823, 233
ГМ-17 Фзика.(лаб. работы)
Четверг Ⅰ, Ⅱ 08:50 – 10:20
Инженерный корпус, Малый пр., 83,
526
РМ-17, ГНГ-17-1, ГНГ-17-2 Физика. Лекция.
Четверг Ⅰ, Ⅱ 10:35 – 12:05
Инженерный корпус, Малый пр., 83,
428, 231
ГНГ-17-2 Физика. Лаб. работы
Пятница 08:50 – 10:20
Инженерный корпус, Малый пр., 83,
403
ГТС-17 Фзика.Практика
Пятница 14:15 – 15:45
Инженерный корпус, Малый пр., 83,
823
ГНГ-17 Фзика.Практика
Дата Время Корпус Группа Предмет
28-12-2018 19:00 - 20:00 Инженерный корпус, Малый пр., 83 ГМ-17, ГТС-17 физика
10-01-2018 11:30 - 12:30 Инженерный корпус, Малый пр., 83 НГД-18-8, НГД-18-10 Физика
10-01-2018 14:00 - 15:00 Инженерный корпус, Малый пр., 83 РМ-17, ГНГ-17-1, ГНГ-17-2 физика