САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКИЙ ГОРНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМПЕРАТРИЦЫ ЕКАТЕРИНЫ II

ПЕРВОЕ ВЫСШЕЕ ТЕХНИЧЕСКОЕ УЧЕБНОЕ ЗАВЕДЕНИЕ В РОССИИ

Лазерно-интерференционный метод определения длины диффузии носителей заряда в полупроводниках.

Ссылка для цитирования (ENG)

Федорцов Александр Борисович , Иванов А. С., Манухов В. В. Лазерно-интерференционный метод определения длины диффузии носителей заряда в полупроводниках. Физика и техника полупроводников. 2015. №9. pp. 1153-1159. http://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/42135

Авторы

Федорцов Александр Борисович , Иванов А. С., Манухов В. В.

Журнал

Физика и техника полупроводников

Год

2015

Ключевые слова


Аннотация