Ссылка для цитирования (ENG)
Федорцов Александр Борисович , Иванов А. С., Манухов В. В. Laser interferometric method for determining the carrier diffusion length in semiconductors Semiconductors. 2015. №9. pp. 1119-1124. http://link.springer.com/article/10.1134/S1063782615090201
Авторы
Федорцов Александр Борисович , Иванов А. С., Манухов В. В.
Журнал
Semiconductors
Год
2015
Ключевые слова
Аннотация
