ПЕРВОЕ ВЫСШЕЕ ТЕХНИЧЕСКОЕ УЧЕБНОЕ ЗАВЕДЕНИЕ В РОССИИ

САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКИЙ ГОРНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

Сытько Иван Иванович


Ученая степеньКандидат технических наук
Ученое званиеДоцент
ДолжностьДоцент каф метрологии и управления качеством


Заместитель заведующего кафедрой метрологии и управления качеством
Телефон
+7 (812) 328-8068


Адрес
2 корпус, Средний пр., 82

Аудитория
1217

Время работы
08:45 - 17:15


В 1985 году окончил с отличием Минское высшее инженерное зенитное ракетное училище ПВО по специальности "Радиотехнические средства", квалификация - военный радиоинженер.

В 1991 году окончил адъюнктуру при Минском ВИЗРУ ПВО. В 1992 году защитил диссертацию на соискание ученой степени кандидата технических наук в Минском ВИЗРУ ПВО.

В 1993 году окончил трехмесячные академические курсы повышения квалификации преподавательского состава при Военной Краснознаменной академии ПВО имени Маршала Советского Союза Жукова Г. К.  по специальности "Психология и педагогика.  Учебная дисциплина и методика её преподавания".

В 1997 году присвоено ученое звание доцент.

За технические разработки (объекты промышленной собственности) в областях: автоматика и вычислительная техника; радиоизмерения награжден серебряной и золотой медалями на Московском международном Салоне промышленной собственности "Архимед-2005" и "Архимед-2007".

В 2007 году в рамках 10 Московского международного Салона промышленной собственности "Архимед" (27-30 марта 2007 года) прошел повышение квалификации по программе: "Теория и практика охраны и использования объектов интеллектуальной собственности".

Победитель конкурсов программы "Гранты преподавателям вузов Министерства обороны Российской Федерации" в 2005 и 2007 гг.

В 2011 году прошел переподготовку и повышение квалификации в Военно-космической академии имени А.Ф. Можайского по программе профессиональной переподготовки специалистов для выполнения нового вида профессиональной деятельности в сфере метрологической экспертизы.

В 2017 году прошел повышение квалификации в ФГАОУ ДПО "Академия стандартизации, метрологии и сертификации (учебная)" по программе: "Поверка и калибровка средств электрических измерений".

В 2018 году прошел повышение квалификации в ЦДПО  ФГБОУ "Санкт-Петербургский горный университет" по дополнительной профессиональной программе: "Применение информационно-коммуникационных технологий в образовательном процессе".

В 2012 году избран на должность доцента кафедры "Метрологии и управления качеством".

Общий научно-педагогический стаж - 30 лет.

Статьи в журналах

  1. Сытько И. И. ,Оптимизация структуры и параметров средств измерений с линейными динамическими характеристиками в среде VisSim и Mathcad / Компоненты и технологии, № 2, Т 2, 2017. С 94 - 96.
  2. Sytko I. I. ,Kremcheeva D. A., INSTRUMENTATION FOR MEASURING THE PARAMETERS AND CHARACTERISTICS OF FOUR-POLES / International Journal of Mechanical Engineering and Technology (IJMET), № 10, Т 8, 2017. С 844 - 854.
  3. Лиференко В. Д. ,Сытько И. И., Моделирование процессов дискретизации по времени и восстановление непрерывных сигналов в среде Mathcad и LabVIEW / Компоненты и технологии, № 12, Т 1, 2016. С 140 - 141.
  4. Сытько И. И. ,Оценка качества линейных динамических систем в среде VisSim и Mathcad / Компоненты и технологии, № 1, Т 1, 2016. С 110 - 112.
  5. Сытько И. И. ,Определение характеристик случайных процессов бета-распределения / Компоненты и технологии, № 3, Т 1, 2015. С 154 - 155.
  6. Сытько И. И. ,Модель измерителя отношения частот сигналов в среде VisSim / Компоненты и технологии, № 5, Т 1, 2015. С 142 - 143.
  7. Сытько И. И. ,Определение характеристик случайных процессов, распределенных по закону Накагами / Компоненты и технологии, № 1, Т 1, 2014. С 172 - 173.
  8. Сытько И. И. ,Исследование динамических характеристик средств измерений в среде VisSim и Mathcad / Компоненты и технологии, № 2, Т 1, 2014. С 136 - 138.
  9. Сытько И. И. ,Математические и имитационные модели электронных вольтметров в среде VisSim / Компоненты и технологии, № 5, Т 1, 2013. С 166 - 167.
  10. Сытько И. И. ,Математические и имитационные модели производственных погрешностей параметров радиоэлектронных устройств в среде VisSim / Компоненты и технологии, № 6, Т 1, 2013. С 148 - 149.
  11. Сытько И. И. ,Математические модели и технические устройства измерения характеристик случайных процессов с симметричными законами распределения вероятностим / Компоненты и технологии, № 12, Т 1, 2012. С 150 - 152.
  12. Сытько И. И. ,Измерение амплитудно-частотных характеристик радиотехнических устройств, обеспечивающих минимальную динамическую погрешность / Компоненты и технологии, № 9, Т 1, 2012. С 166 - 168.

Публикации в сборниках, трудах, конференций

  1. Сытько И. И., Оценка динамической точности средств измерений на этапе проектирования. / под ред.Павлова И. В. //Санкт-Петербург: Санкт-Петербургский горный университет , Т 4, 2016. С 143 - 146.
  2. Махов В. Е., Сытько И. И. Автоматизированная система тестирования знаний в учебном процессе. / под ред.Титова Т. С. //Санкт-Петербург: Санкт-Петербургский государственный университет путей сообщения императора Александра I, Комитет по науке и высшей школе, Правительство Санкт-Петербурга , Т 2, 2016. С 16 - 20.
  3. Сытько И. И., Махов В. Е. Виртуальные измерители амплитудно-частотных характеристик. //Москва: NIDays , Т 1, 2016. С 349 - 352.
  4. Махов В. Е., Сытько И. И. Измерение кривых контраста теневого изображения. //Москва: NIDays , Т 1, 2016. С 362 - 365.
  5. Сытько И. И., Махов В. Е. Особенности использования сайта ФГУ ФИПС в процессе образовательной деятельности по техническим направлениям подготовки. / под ред.Титова Т. С. //Санкт-Петербург: Правительство Санкт-Петербурга, Комитет по науке и высшей школе, Санкт-Петербургский государственный университет путей сообщения императора Александра I , Т 2, 2016. С 225 - 227.
  6. Сытько И. И., Махов В. Е. Виртуальные измерители вероятностных характеристик случайных сигналов. //Москва: NIDays , Т 1, 2015. С 91 - 94.
  7. Махов В. Е., Сытько И. И. Реализация метода Хуанга в среде LabVIEW. //Москва: NIDays , Т 1, 2015. С 388 - 390.
  8. Сытько И. И., Использование виртуальных измерительных приборов и объектов интеллектуальной собственности в рамках изучения дисциплины "Метрология и радиоизмерения". //Санкт-Петербург: Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина) , Т 2, 2012. С 190 - 191.

Учебники, учебные пособия, монографии

  1. Смирнов В. Я., Станякин В. М., Сытько И. И. Защита интеллектуальной собственности и патентоведение. Санкт-Петербург: Национальный минерально-сырьевой университет "Горный", 2013 - 83

Патенты

  1. Сытько И. И. Измеритель относительных амплитудно-частотных характеристик. Патент РФ № 2584730. бюллетень изобретения. №14. дата публикации 2016.
  2. Сытько И. И. Устройство для измерения характеристик случайных процессов. Патент РФ № 2336562. бюллетень изобретения. №29. дата публикации 2008.
  3. Анцев Г. В. Измеритель относительных амплитудно-частотных характеристик. Патент РФ № 2341807. бюллетень изобретения. №35. дата публикации 2008.
  4. Сытько И. И. Измеритель относительных амплитудно-частотных характеристик. Патент РФ № 2291452. бюллетень изобретения. №1. дата публикации 2007.
  5. Анцев Г. В. Устройство для измерения характеристик случайных процессов. Патент РФ № 2280278. бюллетень изобретения. №20. дата публикации 2006.
  6. Сытько И. И. Устройство для измерения характеристик случайных процессов. Патент РФ № 2168763. бюллетень изобретения. №16. дата публикации 2001.
  7. Сытько И. И. Устройство для измерения характеристик случайных процессов. Патент РФ № 2110806. бюллетень изобретения. №13. дата публикации 1998.
  1. «Производственная практика-научно-исследовательская работа-Научно-исследовательская практика» (практические занятия).
    Направление подготовки «Стандартизация и метрология». Профиль «Метрология и метрологическое обеспечение».
    Семестр: 6.
  2. «Учебная практика - практика по получению первичных профессиональных умений и навыков » (практические занятия).
    Направление подготовки «Стандартизация и метрология». Образовательная программ «Метрологическое обеспечение и квалиметрия».
    Семестр: 1.
  3. «Метрология, стандартизация и сертификация» (лекции, лабораторные работы).
    Направление подготовки «Электроэнергетика и электротехника». Профиль «Электроснабжение».
    Семестр: 5.
  4. «Метрология, стандартизация и сертификация» (лекции, лабораторные работы).
    Направление подготовки «Электроэнергетика и электротехника». Профиль «Электроснабжение».
    Семестр: 5.
  5. «Метрология, стандартизация и сертификация» (лекции, лабораторные работы, практические занятия).
    Направление подготовки «Информатика и вычислительная техника». Профиль «Автоматизированные системы обработки информации и управления».
    Семестр: 5.
  6. «Метрология, стандартизация и технические измерения» (лекции, лабораторные работы, практические занятия).
    Направление подготовки «Электроника и наноэлектроника». Профиль «Промышленная электроника».
    Семестр: 6.
  7. «Метрология и измерительная техника» (лекции, лабораторные работы, практические занятия).
    Направление подготовки «Управление в технических системах». Профиль «Информационные технологии в управлениии».
    Семестр: 5.
  8. «Методы и средства измерений и контроля» (лекции, лабораторные работы, практические занятия, курсовое проектирование).
    Направление подготовки «Стандартизация и метрология». Профиль «Метрология и метрологическое обеспечение».
    Семестр: 5, 6.
  9. «Надежность технических систем» (лекции, практические занятия).
    Направление подготовки «Стандартизация и метрология». Образовательная программ «Метрологическое обеспечение и квалиметрия».
    Семестр: 2.
  10. «Теория информации» (лекции, практические занятия, курсовое проектирование).
    Направление подготовки «Стандартизация и метрология». Профиль «Метрология и метрологическое обеспечение».
    Семестр: 3.
  11. «Защита интеллектуальной собственности и патентоведение» (лекции, практические занятия).
    Направление подготовки «Стандартизация и метрология». Профиль «Метрология и метрологическое обеспечение».
    Семестр: 6.
  12. «Основы приборостроения» (лекции, практические занятия).
    Направление подготовки «Стандартизация и метрология». Профиль «Метрология и метрологическое обеспечение».
    Семестр: 7.
  13. «Основы надежности средств измерений» (лекции, практические занятия, курсовое проектирование).
    Направление подготовки «Стандартизация и метрология». Профиль «Метрология и метрологическое обеспечение».
    Семестр: 7, 8.
  1. Сытько И. И. Метрология, стандартизация и технические измерения: методические указания к практическим работам / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2016. C. 34. http://personal....
  2. Сытько И. И. Защита интеллектуальной собственности и патентоведение [программа подготовки к зачету]: методические указания по самостоятельной работе / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2016. C. 6. http://personal....
  3. Сытько И. И. Методы и средства измерений и контроля [программа подготовки к экзамену]: методические указания по самостоятельной работе / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2016. C. 5. http://personal....
  4. Сытько И. И. Основы надежности средств измерений [программа подготовки к экзамену]: методические указания по самостоятельной работе / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2016. C. 5. http://personal....
  5. Сытько И. И. Основы надежности средств измерений: методические указания по курсовому проектированию / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2016. C. 13. http://personal....
  6. Сытько И. И. Методы и средства измерений и контроля [программа подготовки к зачету]: методические указания по самостоятельной работе / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2016. C. 3. http://personal....
  7. Сытько И. И. Метрология, стандартизация и технические измерения [программа подготовки к экзамену]: методические указания по самостоятельной работе / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2016. C. 5. http://personal....
  8. Сытько И. И. Защита интеллектуальной собственности и патентоведение : методические указания к практическим работам / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2016. C. 22. http://personal....
  9. Сытько И. И. Основы надежности средств измерений: методические указания к практическим работам / Санкт-Петербургский горный университет. Санкт-Петербург, 2016. C. 30. http://personal....
День недели Неделя Время Корпус Группа Предмет
Понедельник 12:35 – 14:05
2 корпус, Средний пр., 82,
1246
МО-15 Основы надежности средств измерений
Понедельник 12:35 – 14:05
2 корпус, Средний пр., 82,
1246
ГРП-16 Метрология, квалиметрия и стандартизация
Понедельник 10:35 – 12:05
2 корпус, Средний пр., 82,
1236
ИТУ-16 Метрология и измерительная техника
Понедельник 10:35 – 12:05
2 корпус, Средний пр., 82,
1236
ИТУ-16 Метрология и измерительная техника
Вторник 10:35 – 12:05
2 корпус, Средний пр., 82,
1246
МО-16 Методы и средства измерений и контроля
Вторник Ⅰ, Ⅱ 14:15 – 15:45
2 корпус, Средний пр., 82,
1236
МО-16 Методы и средства измерений и контроля
Вторник 12:35 – 14:05
2 корпус, Средний пр., 82,
1238
ИТУ-16 Метрология и измерительная техника
Вторник 12:35 – 14:05
2 корпус, Средний пр., 82,
1246
МО-15 Основы приборостроения
Среда 14:15 – 15:45
2 корпус, Средний пр., 82,
1126
ЭС-16 Метрология, стандартизация и сертификация
Среда 12:35 – 14:05
3 корпус, Малый пр., 83,
603
МО-17 Теория информации
Среда 14:15 – 15:45
3 корпус, Малый пр., 83,
548
МО-17 Теория информации
Пятница 12:35 – 14:05
2 корпус, Средний пр., 82,
1236
МО-16 Методы и средства измерений и контроля
Пятница 14:15 – 15:45
2 корпус, Средний пр., 82,
1238
ЭС-16 Метрология, стандартизация и сертификация
Пятница 12:35 – 14:05
2 корпус, Средний пр., 82,
1246
ЭС-16 Метрология, стандартизация и сертификация
Пятница Ⅰ, Ⅱ 10:35 – 12:05
2 корпус, Средний пр., 82,
1223
ИАС-16 Метрология, стандартизация и сертификация
Пятница 14:15 – 15:45
2 корпус, Средний пр., 82,
1246
МО-15 Основы надежности средств измерений