Ссылка для цитирования (ENG)
Smerdov R S , Spivak Y. M., Levitsky V. S., Moshnikov V. A. The characterisation of nanostructured porous silicon/silver layers via Raman spectroscopy Journal of Physics: Conference Series. 2018. №1. pp. 1-4. 10.1088/1742-6596/1038/1/012064
Авторы
Smerdov R S , Spivak Y. M., Levitsky V. S., Moshnikov V. A.
Журнал
Journal of Physics: Conference Series
Год
2018
Ключевые слова
Аннотация
